‎-%۵

کتاب آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS

نویسنده/ مترجم مهندس میلاد امن زاده مهندس الناز محمد زنجانی پور مهندس علیرضا کازرانی
ناشر نوآور
تعداد صفحات 224
سال چاپ 1400
نوبت چاپ 2
شابک 9786001682261
سی‌دی دارد
قیمت با تخفیف 84,550 تومان
قطع کتاب وزیری
رنگ صفحات سیاه سفید
جلد شومیز (مقوایی)

نمایش جزئیات بیشتر کتاب نمایش کتاب های مشابه نمایش توضیحات و سرفصل‌ها

3 در انبار

✓ این محصول هم‌اکنون موجود است و برای خرید، ابتدا باید روی افزودن‌به‌سبد‌خرید کلیک نمایید.

آخرین بروزرسانی قیمت کتاب‌ها: 2 دقیقه قبل

درصورت وجود هر سوالی، می‌توانید [در ساعات اداری] با شماره‌های 02166484190-2 تماس گرفته و یا در تلگرام با شماره‌ی 09102991089 (پشتیبان علمی برای مشاوره/سوالات مربوط به کتب و کلاس‌ها) یا 09332254075 (پشتیبان فنی برای سوالات مربوط به سایت، نرم‌افزار و اپلیکیشن) پیام بدهید.


شرایط و زمان‌بندی ارسال کتاب‌ها:
ارسال با پیک موتوری بــــــادپــــا به مناطق ۲۲گانه تهران:
طی ۴ سـاعـت کــاری بـعـد از ثبت سفارش، کتاب‌ها بسته‌بندی و تحویل پــیــک بــادپــا می‌شوند.
   1. پیک اشـتــراکــی: هزینه ارسال ۸۰۰۰ تومان (طی ۱ روز کاری بعد از تحویل به پیک،کتاب‌ها تحویل شما می‌گردد.)
   2. پیک اختصاصی: هزینه براساس مــسـافـت (طی ۲ ســـاعـــت بعد از تحویل به پیک،کتاب‌ها تحویل شما می‌گردد.)
ارسال با شرکت پست جمهوری اسلامی به کــــل ایـــران:
طی ۲۴ ساعت کاری بعد از ثبت سفارش، کتاب‌ها بسته‌بندی و تحویل شرکت پست می‌شوند.
   » پست پیشتاز: هزینه براساس مسافت و وزن(معمولا طی ۴روز کاری بعد از ارسال، کتاب‌ها تحویل شما می‌گردد.)
ساعت کاری ما: شنبه تا چهارشنبه: 10 الی 17:30 / پنج‌شنبه: 10 الی 14

ساعت کاری ما: شنبه تا چهارشنبه: 10 الی 17:30 / پنج‌شنبه: 10 الی 14
آیا سوالی دارید که جوابش اینجا نیست؟
می‌توانید سوال خود در مورد کتاب‌های موردنیازتان را در ساعات اداری در قسمت گفتگوی آنلاین بپرسید و یا با شماره تلفن‌های ۲-۶۶۴۸۴۱۹۰(۰۲۱) تماس حاصل نمایید.

آیا سوالی دارید که جوابش اینجا نیست؟
می‌توانید سوال خود در مورد کتاب‌های موردنیازتان در مورد دوره‌ی موردنیازتان را در ساعات اداری در قسمت گفتگوی آنلاین بپرسید و یا با شماره تلفن‌های ۲-۶۶۴۸۴۱۹۰(۰۲۱) تماس حاصل نمایید.

* لطفا توجه فرمایید: در این ایام کرونایی، انتشارات نوآور همچنان سفارشات آنلاین را ارسال کرده و محدودیت‌های اعمال شده، تاثیری بر روند کار این مجموعه نخواهد داشت.
چرا خرید آنلاین از وب‌سایت انتشارات نوآور را توصیه می‌کنیم:

با دنبال کردن ما در شبکه‌های اجتماعی، از جدیدترین اخبار کتاب‌ها و تخفیف‌ها آگاه باشید
   

توضیحات

کتاب آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS :

فهرست مطالب :

فهرست اشكال
پیشگفتار

فصل اول: تئوری فتوگرامتری :

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS
۱-۱.تاریخچه فتوگرامتری
۱-۲.انواع فتوگرامتری
۱-۳-۱.طراحی اندکس پرواز و عکسبرداری
۱-۳-۲.پالایش عکسی
۱-۳-۳.تهیه اندکس عکسی
۱-۳-۴.طراحی و تعیین مختصات نقاط کنترل زمینی
۱-۳-۵.ایجاد واندازهگیری مختصات نقاط کنترل، گرهی و گذر
۱-۳-۶.مثلثبندی هوایی
۱۱-۳-۷.مدل رقومی زمین
۱-۳-۸.اورتوفتو و روش تهیه آن
۱-۳-۹. تبدیل مدل سه بعدی
۱-۳-۱۰. کارتوگرافی
۱-۴. توجیه داخلی
۱-۵.ترفیع فضایی
۱-۶.تقاطع فضایی
۱ـ۷. سرشکنی دسته اشعه

فصل دوم: نرم‌افزار Leica Photogrammetry Suite :

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS
۲ـ۱. LPS Project Manager
۲ـ۲. LPS Automatic Terrain Extraction
۲ـ۳. LPS Terrain Editor
۲ـ۴. Mosaic Tool
۲-۵. PRO600
۲-۶. عملیات اصلی در نرم‌افزارLPS
۲-۷.آیکونهای موجود در منوی اصلی نرم‌افزار LPS

فصل سوم: ایجاد پروژه جدید، انجام توجیهات و مثلث‌بندی :

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS
۳-۱.ایجاد پروژه جدید
۳-۲.ایجاد بلوک عکسی
۳-۳.اضافه نمودن تصاویر به بلوک
۳-۴.تعریف مدل دوربین
۳-۵.معرفی پارامترهای توجیه داخلی
۳-۶.پارامترهای توجیه خارجی
۳-۷.استخراج اتوماتیک نقاط گرهی عکسی
۳-۸.تعیین مختصات زمینی و مختصات عکسی نقاط کنترل
۳-۹.پیغامهای خطا و مشکلات رایج
۳-۱۰.مثلثبندی هوایی
۳-۱۱.اختصاص وزنهای آماری به مختصات عکسی
۳-۱۲.اختصاص وزنهای آماری به نقاط کنترل زمینی
۳-۱۳.اختصاص وزنهای آماری به پارامترهای توجیه خارجی در تب پارمترهای توجیه خارجی
۳-۱۴.اختصاص وزنهای آماری به پارامترهای توجیه داخلی در تب پارمترهای توجیه داخلی
۳-۱۵.بهینه‌سازی سلف کالیبراسیون باندل اجستمنت
۳-۱۶.برآورد پارامترهای اضافی برای سلف کالیبراسیون باندل اجستمنت
۳-۱۷.بررسی خودکار خطاهای بزرگ
۳-۱۸.بههنگام ساختن نتایج
۳-۱۹.پذیرفتن نتایج
۳-۲۰.گزارش مثلثبندی هوایی
۳-۲۱.تحلیل گرافیکی نتایج مثلثبندی هوایی

فصل چهارم: مدلسازی رقومی زمین :

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS
۴-۱.مراحل تولید مدل رقومی زمین در نرمافزار LPS
۴-۲.پارامترهای مدل رقومی زمین
۴-۳.تنظیمات عمومی جهت تهیه مدل رقومی
۴-۴.تعیین زوج تصاویر مورد نظر جهت استخراج مدل رقومی
۴-۵.تعیین ناحیه مورد نظر جهت تهیه مدل رقومی
۴-۶.ایجاد و معرفی نواحی با پارامترهای مورد نظر در تهیه مدل رقومی
۴-۷.تعیین پارامترهای استراتژیک به منظور استخراج مدل رقومی
۴-۸.تعیین دقت مدل رقومی زمین
۴-۹.تب دادههای SEED جهت تهیه مدل رقومی
۴-۱۰.گزارش مدل رقومی استخراج شده
۴-۱۱.تفسیر گزارش مدل رقومی
۴-۱۲.خروجیهای حاصل از تولید مدل رقومی در نرم‌افزار LPS
۴-۱۳.ویرایش مدل رقومی زمین
۴-۱۴.اتصال فایلهای جداگانه و ایجاد مدل رقومی یکپارچه

فصل پنجم: تهیه اورتوفتو و اورتوموزائیك :

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS
۵-۱. Orthorectification
۱ـ۵. Ortho Resampling
۵-۲.تب عمومی در تولید اورتوفتو
۵-۳.تنظیمات پیشرفته جهت تهیه اورتوفتو
۵ـ۴. Ortho Calibration
۵-۵.:مشکلات موجود در تهیه اورتوفتو
۵-۶. درونیابی مقادیر درجات خاکستری در تولید اورتوفتو
۵-۷.نمایش اورتوفتو
۵-۸-تهیه اورتو موزائیک
۵-۸-۱-برش بخشهای اضافی از تصویر
۵-۸-۲.موزائیک تصاویر برش خورده
فصل ششم: استخراج عوارض
۶-۱-ترسیم عوارض نقطهای
۶-۲-ترسیم عوارض خطی
۶-۳-ترسیم عوارض سطحی
۶-۴- leica Stereo Analyst
پیوست: مخفف‌ها
منابع و مآخذ

فهرست اشكال

شکل۱.۱:روند تکامل فتوگرامتری
شکل۱-۲: مراحل استخراج اطلاعات مکانی از تصاویر هوایی
شکل۱-۳: پوشش‌های طولی و عرضی
شکل ۱-۴: مثلثبندی هوایی، Δ نقاط کنترل، × نقاط گرهای و o مراکز تصویربرداری
شکل۱-۵:DSM و DTM
شکل۱-۶: راست: شبکه نامنظم مثلثی، چپ: مدل رقومی زمین
شکل۱-۷:خطای تیلت و اختلاف ارتفاع
شکل۱-۸:تولید اورتوفتو
شکل۱-۹:چپ:تصویر واقعی، راست: تصویر اورتو
شکل۱-۱۰:پارامترهای توجیه داخلی
شکل۱-۱۱:سیستم مختصات پیکسلی و عکسی
شکل۱-۱۲:ترفیع فضایی
شکل۱-۱۳: تقاطع فضایی
شکل ۱ـ۱۴: اصول سرشکنی دسته اشعه
شکل۱ـ۱۵: شرط همخطی
شکل۳-۱: پنجره مدیریت پروژه
شکل۳-۲: پنجره تعریف پروژه جدید
شکل۳-۳: پنجره معرفی دوربین
شکل۳-۴: پنجره معرفی سیستم تصویر و بیضوی
شکل۳-۵: پنجره معرفی سیستم تصویر و بیضوی
شکل۳-۶: پنجره معرفی پارامترهای بلوک عکسی
شکل۳-۷: تعریف زویای دورانی
شکل۳-۸: تعریف محورهای عکسبرداری
شکل۳-۹: تعریف ارتفاع پرواز
شکل۳-۱۰: پنجره نمایش پارامترهای توجیه خارجی
شکل۳-۱۱: پنجره تعریف فرمت پارامترهای توجیه خارجی
شکل۳-۱۲: پنجره اصلی نرم‌افزار
شکل۳-۱۲: پنجره معرفی تصاویر، پارامترهای توجیه داخلی و توجیه خارجی
شکل۳-۱۳: لایههای پیرامیدی
شکل۳-۱۴: پنجره روشهای تولید پیرامید
شکل۳-۱۵: نمایش مراحل انجام شده در هر یک از تصاویر
شکل۳-۱۶: پنجره تعریف مدل دوربین
شکل۳-۱۷: پنجره تعریف پارامترهای دوربین
شکل ۳-۱۸:توجیه داخلی تصاویر آنالوگ
شکل۳-۱۹: تعریف سیستم مختصاتها
شکل ۳-۲۰:پنجره توجیه داخلی برای تصاویر آنالوگ
شکل ۳-۲۱: پنجرههای قابل مشاهده در هر تصویر آنالوگ در توجیه داخلی
شکل ۳-۲۲:توجیه داخلی اتوماتیک
شکل ۳-۲۳:روشنایی و کنتراست تصویر در توجیه داخلی
شکل۳-۲۴: پنجره تعریف پارامترهای توجیه داخلی
شکل۳-۲۵: پنجره تعریف پارامترهای توجیه خارجی
شکل۳-۲۶: پنجره تعریف انحراف معیار پارامترهای توجیه خارجی
شکل۳-۲۷: انجام مرحله توجیه داخلی
شکل۳-۲۸: محاسبه توجیه نسبی با استفاده از پارامترهای توجیه خارجی
شکل۳-۲۹: نوارها و تصاویر بلوک عکسی
شکل۳-۳۰: پوشش طولی و عرضی تصاویر
شکل۳-۳۱: تعیین جهت مسیر پرواز
شکل۳-۳۲: پنجره اندازهگیری نقاط در حالت دوبعدی و سه بعدی
شکل۳-۳۳: پنجره اندازهگیری نقاط
شکل۳-۳۴: نمای پنجره اندازهگیری نقاط
شکل۳-۳۵: ابزارهای بهبود تصویر در پنجره اندازهگیری نقاط
شکل۳-۳۶: ابزارهای پنجره اندازهگیری
شکل۳-۳۷: پارامترهای استخراج اتوماتیک نقاط گرهی
شکل۳-۳۸:حداقل نقاط کنترل به منظور استخراج اتوماتیک نقاط گرهی
شکل۳-۳۹: حداقل نقاط گرهی به منظور استخراج اتوماتیک نقاط مشترک
شکل۳-۴۰: ایجاد زیر بلوک به منظور استخراج اتوماتیک نقاط گرهی
شکل۳-۴۱:پنجره معرفی استراتژیهای استخراج نقاط گرهی
شکل۳-۴۲:پنجره معرفی پراکندگی استخراج نقاط گرهی
شکل۳-۴۳:پنجره نمایش گرافیکی الگوی استخراج نقاط گرهی
شکل۳-۴۴:ابزار شروع پروسه استخراج اتوماتیک نقاط گرهی
شکل۳-۴۵:پنجره گزارش استخراج اتوماتیک نقاط گرهی
شکل۳-۴۶:اضافه کردن نقاط گرهی به صورت دستی
شکل۳-۴۷:پنجره نمایش نقاط گرهی موجود در تصاویر پوششدار
شکل۳-۴۸:معرفی نقاط کنترل
شکل۳-۴۹:تعیین نوع نقاط کنترل
شکل۳-۵۰:پنجره تعیین پارامترهای مثلثبندی
شکل۳-۵۱: پنجره تعیین انحراف معیار مختصات عکسی و زمینی
شکل۳-۵۲: تعیین انحراف معیار مختصات عکسی
شکل۳-۵۳: نقاط کنترل بدون وزن
شکل۳-۵۴: نقاط کنترل با وزن یکسان
شکل۳-۵۵: نقاط کنترل با وزن متفاوت
شکل۳-۵۶: پارامترهای توجیه خارجی بدون وزن
شکل۳-۵۷: پارامترهای توجیه خارجی با وزن یکسان
شکل۳-۵۸: پارامترهای توجیه خارجی با وزن متفاوت
شکل۳-۵۹: تعیین انحراف معیار پارامترهای توجیه داخلی
شکل۳-۶۰: پنجره تنظیمات پیشرفته
شکل۳-۶۱: پنجره نمایش دقت مثلثبندی
شکل۳-۶۲: مرتب کردن خطاهای نقاط گرهی به صورت نزولی
شکل۳-۶۳: حذف نقاط گرهی دارای خطای زیاد از مثلثبندی
شکل۳-۶۴: گزارش مثلثبندی
شکل۳-۶۵: تعیین پارامترهای توجیه خارجی پس از مثلثبندی
شکل۳-۶۶: نمایش گرافیکی بلوک عکسی پس از مثلثبندی
شکل۳-۶۷: نمایش اطلاعات نقاط موجود
شکل۳-۶۸: ابزارهای موجود در پنجره اصلی نرم‌افزار به منظور نمایش گرافیکی بلوک عکسی
شکل۴-۱: پنجره اصلی تولید مدل رقومی زمین
شکل۴-۲:وارد کردن رنج ارتفاعی برای جستجو نقاط در هر یک از تصاویر
شکل۴-۳:تب عمومی در تهیه مدل رقومی زمین
شکل۴-۴:وضعیت تناظریابی نقاط به منظور تولید مدل رقومی
شکل۴-۵:نمایش وضعیت و کیفیت نقاط استخراج شده به منظور تولید مدل رقومی
شکل۴-۶: حذف حواشی تصاویر در تولید مدل رقومی زمین
شکل۴-۷:کاهش منطقه جستجو زوج تصاویر
شکل۴-۸: تعیین حاشیه بیرونی مدل
شکل۴-۹:نمایش گرافیکی زوج تصاویر
شکل۴-۱۰: تعیین میزان پوشش زوج تصاویر
شکل۴-۱۱:تعیین لایههای پیرامیدی برای استخراج نقاط مشترک به منظور تولید مدل رقومی زمین
شکل۴-۱۲:پنجره مربوط به تعیین نواحی مورد نظر برای تولید مدا رقومی زمین
شکل۴-۱۳:نمایش تصویر چپ زوج تصاویر به منظور تعیین مناطق مورد نظر
شکل۴-۱۴:نمایش استفاده از ابزار Rectangle در تعریف مناطق مورد نظر
شکل۴-۱۵:نمایش استفاده از ابزار Polygone در تعریف مناطق مورد نظر
شکل۴-۱۶ استفاده از ابزار Rectangle در تعریف ناحیه دریا
شکل۴-۱۷:حذف ناحیه دریا از مدل رقومی استخراج شده
شکل۴-۱۸:پنجره پارامترهای استراتژیک تولید مدل رقومی
شکل۴-۱۹: جستجو به منظور تعیین نقاط مشترک با استفاده از خطوط اپیپولار
شکل۴-۲۰: نمایش پنجره جستجو و کرولیشن به منظور استخراج نقاط مشترک
شکل۴-۲۱:پارامترهای مدلسازی و شناسایی عوارض
شکل۴-۲۲:وضعیت نواحی انتخاب شده جهت تولید مدل رقومی
شکل۴-۲۳:پنجره دقت در تولید مدل رقومی زمین
شکل۴-۲۴:پنجره نمایش گرافیکی تب دقت مدل رقومی
شکل۴-۲۵:نمایش نقاط سه بعدی مرجع تعیین شده توسط کاربر
شکل۴-۲۴:دادههای SEED در تولید مدل رقومی
شکل۴-۲۷:انتخاب گزینه RUN و شروع پورسه تولید مدل رقومی زمین
شکل۴-۲۸:پنجره اصلی نرم‌افزار بعد از تولید مدل رقومی زمین
شکل ۴-۲۹: نمایش مدل رقومی به همراه نقشه منحنی میزان و نقشه کیفیت مدل رقومی
شکل۴-۳۰: گزارش مدل رقومی تولید شده
شکل ۴-۳۱: نمایش دقت نقاط گرهی به منظور تولید مدل رقومی زمین
شکل۴-۳۲: نمایش دقت مدل رقومی زمین
شکل۴-۳۳: نمایش دقت مدل رقومی زمین حاصل از نقاط گرهی
شکل۴-۳۴: خطای مطلق NIMA LE90
شکل۴-۳۵: اختلا ف بین مدل رقومی مرجع و مدل رقومی استخراج شده
شکل۴-۳۶: NIMA CE90
شکل۴-۳۵: مدل ۳D Shape
شکل۴-۳۶: مدل ASCII
شکل۴-۳۷: مدل Terra Model TIN
شکل ۴-۳۸: پنجره terrain editor
شکل ۴-۳۹: انتخاب manual toggle mode در ویرایش مدل رقومی زمین
شکل ۴-۴۰: انتخاب رفتار کرسر در ویرایش مدل رقومی زمین
شکل۴-۴۱: terrain files and display در ویرایش مدل رقومی زمین
شکل ۴-۴۲: terrain editing در ویرایش مدل رقومی زمین
شکل۴-۴۳: image adjustment در ویرایش مدل رقومی زمین
شکل۴-۴۴: move cursor در ویرایش مدل رقومی زمین
شکل۴-۴۵: انتخاب data prep از منوی erdas جهت تهیه مدل رقومی زمین یکپارچه
شکل۴-۴۶: انتخاب create surface از منوی data prep جهت تهیه مدل رقومی زمین یکپارچه
شکل۴-۴۷: انتخاب نوع فایل های ورودی جهت یکپارچهسازی مدل رقومی زمین
شکل۴-۴۸: یکپارچه سازی مدلهای رقومی زمین جداگانه
شکل۵-۱: انتقال از زمین به عکس

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS

شکل۵-۲: درونیابی در فضای عکسی
شکل۵-۳: پنجره تولید اورتوفتو
شکل۵-۴: پنجره تعیین محدوده تولید اورتوفتو
شکل۵-۵: اضافه نمودن نام و محل ذخیره تک تصویر جهت تولید اورتوفتو
شکل ۵-۶: انتخاب پسوند کلی و محل ذخیره تصاویر مورد نظر جهت تهیه اورتو از آنها
شکل۵-۷: پنجره تنظیمات پیشرفته تولید اورتوفتو
شکل۵-۸: تعیین سیستم تصویر و بیضوی در تولید اورتوفتو
شکل۵-۹: Ortho calibration
شکل۵-۱۰:مدل رقومی دارای پس زمینهای با درجات خاکستری صفر
شکل۵- ۱۱: تعیین پارامترهای آماری به منظور تصحیح مدل رقومی
شکل۵-۱۲: منطقهای از مدل رقومی با درجات خاکستری صفر
شکل۵-۱۳: تعیین پارامترهای آماری به منظور تصحیح مدل رقومی
شکل۵-۱۴: نمایش اورتوفتو
شکل۵-۱۵: نمایش اورتوفتو
شکل۵-۱۶: مدل رقومی و اورتوفتوی تلید شده به همراه تصویر اصلی
شکل۵-۱۷: تصویر اورتو قبل از بریده شدن بخشهای اضافی
شکل۵-۱۸: بخش tools از منوی AOI
شکل۵-۱۹: AOI Tools
شکل۵-۲۰: نمونهای از AOI ترسیم شده برای برش تصویر
شکل ۵-۲۱: ذخیره فایل AOI
شکل۵-۲۲: انتخاب برش تصویر
شکل ۵-۲۳:مشخصات پنجره subset image
شکل۵-۲۴: پنجره inquire box
جدول(۵-۱): نوع دادههای ورودی و خروجی
شکل ۵-۲۵: پروسه برش تصویر و تصویر برش خورده نهایی
شکل۵-۲۶: انتخاب AOI
شکل۵-۲۷: پنجره تنظیم موقعیت تصاویر نسبت به یکدیگر
شکل۵-۲۸: پنجره swipe
شکل۵-۲۹: تنظیم روشنایی تصاویر
شکل۵-۳۰: پنجره brightness/contrast
شکل۵-۳۱: دو تصویر قبل و بعد از تنظیم روشنایی
شکل۵-۳۲: ترسیم AOI خطی جهت حذف خط مرزی بین دو تصویر
شکل۵-۳۳: شروع اورتوموزائیک
شکل۵-۳۴:وارد نمودن فایل مدل رقومی زمین جهت موزائیک اورتوفتو
شکل۵-۳۵:وارد نمودن تصاویر جهت انجام موزائیک
شکل ۵-۳۶:محاسبه بخش فعال تصویر جهت موزائیک
شکل ۵-۳۷:انتخاب AOIجهت موزائیک تصاویر
شکل ۵-۳۸:پنجره موزائیک تصاویر
شکل۵-۳۹:حالتهای مختلف resampling
شکل۵-۴۰:اعمال تصحیحات رنگی در تصاویر جهت موزائیک کردن
شکل ۵-۴۱:تعیین نواحی exclude
شکل ۵-۴۲:یافتن نواحی شبیه به AOI ترسیم شده در تصویر
شکل ۵-۴۳: image dodging

آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS : 

شکل ۵-۴۴:تنظیم روشنایی تصویر
شکل۵-۴۵:تنظیم رنگ تصویر
شکل ۵-۴۶:انواع سطح قابل برازش برای مدل نمودن تغییرات روشنایی تصویر
شکل۵-۴۷:تنظیم دستی رنگ تصویر
شکل ۵-۴۸:histogram matching
شکل ۵-۴۹:تنظیم تابع همپوشانی
شكل ۵-۵۰: تنظیم تابع همپوشانی(cutline exist)
شکل ۵-۵۱:ایجاد اتوماتیک خط برش بین تصاویر
شکل ۵-۵۲: weighted cutline
شکل ۵-۵۳:تنظیم AOIمورد نظر جهت موزائیک تصاویر
شکل ۵-۵۴:مشاهده وضعیت cutline انتخابی در تصاویر در حال موزائیک
شکل ۵-۵۵:تغییر خصوصیات تصویر موزائیک نهایی
شکل۵-۵۶:تصویر اورتوموزائیک
شکل ۶-۱:نحوه استخراج عوارض در محیط LPS
شکل۶-۲:پنجره استخراج عوارض
شکل۶-۳:ایجاد پروژه ترسیم عوارض
شکل۶-۴:انتخاب کلاس عوارض مورد ترسیم
شکل۶-۵:ایجاد کلاس عارضه جدید
شکل۶-۶:مشخصات عارضه جدید در حال ایجاد جهت ترسیم
شکل ۶-۷:مشخصات جدول خصوصیات عارضه جدید
شکل ۶-۸:زوج تصویر و عوارض قابل ترسیم
شکل ۶-۹:تغییر مشخصات عوارض ترسیمی
شکل ۶-۱۰:انواع فایلهای قابل استفاده در استخراج عوارض
شکل ۶-۱۱:ایجاد یک مدل استریو از زوج تصویر توجیه نشده
شکل ۶-۱۲:مشخصات هر تصویر جهت ایجاد مدل استریو
شکل ۶-۱۳:پنجره ۳D measure tools
شکل ۶-۱۴:تنظیم واحدهای اندازهگیری
شکل ۶-۱۵:اطلاعات عوارض انتخابی در صفحه نمایش
شکل ۶-۱۶: Position tool
شکل۶-۱۷:نمایش مشخصات بلوک
شکل۶-۱۸: تبهای مختلف نمایش مشخصات بلوک
شکل۶-۱۹:تغییر وضعیت ظاهری کرسر در stereo analyst
شکل۶-۲۰:تنظیمات ارتفاعی کرسر
شکل۶-۲۱:تنظیمات دیجیتایز نمودن مدل
شکل۶-۲۲:تنظیمات مربوط به برداشت عوارض
شکل۶-۲۳: ABC puck
شكل۶-۲۴: mouse-track
شکل۶-۲۵: Image manipulation options
شکل۶-۲۶:performance
شکل۶-۲۷:stereo chooser options
شکل۶-۲۸:stereo mode
شکل۶-۲۹:stereo view options
شکل۶-۳۰:محدوده منطقه همپوشانی و کل تصاویر
شکل۶- ۳۱: Terrain Following Options
شکل۶-۳۲: Texture Filtering
شکل۶-۳۳: Texture Memory Usage
شکل۶-۳۴:انتخاب زوج استریوی مورد نظر
شکل۶-۳۵:تعیین میزان زوم در تصویر
شکل۶-۳۶:مشاهده مشخصات عوارض ترسیمی در پروژه
شکل۶-۳۷:مختصات نقاط عارضه انتخابی
شکل۶-۳۸:اضافه نمودن نقاط جدید به عارضه نقطهای- خطی و پلیگونی
شکل۶-۳۹:حذف نقاط
شکل۶-۴۰:جابجایی موقعیت نقطه
شکل۶-۴۱:اضافه نمودن طول عارضه
شکل۶-۴۲:حذف یک تکه از عارضه خطی
شکل۶-۴۳:افزایش دید سه بعدی عارضه
شکل۶-۴۴:مشاهده لایههای مختلف تصاویر
شکل۶-۴۵:Data scaling
شکل۶-۴۶: General Contrast
شکل۶-۴۷: Brightness/Contrast Tool
شکل۶-۴۸:break points

انتشارات نوآور

ناشر تخصصی کتاب های نظام مهندسی

توضیحات تکمیلی

وزن 345 g

قسمتی از پی دی اف کتاب

کتاب آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS

دانلود فایل های الحاقیه کتاب

دانلود فایل های الحاقیه کتاب

2 دیدگاه برای کتاب آموزش کاربردی خط تولید فتوگرامتری رقومی در LPS

  1. نمره 3 از 5

    جمشید عبدالهیان

    خریدار کتاب۹۸/۰۳/۱۶

  2. نمره 5 از 5

    رضا آقایی

    خریدار کتاب۹۶/۱۲/۱۵ در این کتاب ریز جزئیات نرم افزار به صورت مورد به مورد توضیح داده شده است و من این شیوه نگارش را برای کتاب‌های آموزش نرم افزار می پسندم، اگرچه ممکن است دیگران سبک نگارش پروژه محور را ترجیح دهند.

  3. R

    سی دی اش خرابه،نصب نمیشه

    • پشتیبانی انتشارات نوآور

      سلام وقت بخیر، لطفا با انتشارات تماس بگیرید تا همکارانم راهنمایی کنند.

دیدگاه خود را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

شما شاید این موارد را هم دوست داشته باشید: